近日，電科芯片所屬西南設(shè)計牽頭制定的國家標(biāo)準(zhǔn)《半導(dǎo)體集成電路-射頻發(fā)射器/接收器測試方法》正式實施。

該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路射頻發(fā)射器和接收器的電特性測試方法的基本原理和測試程序，適用于具有接收功能、發(fā)射功能、收發(fā)一體功能的一次變頻射頻發(fā)射器/接收器，標(biāo)志著公司在射頻測試領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)化建設(shè)方面邁上新臺階。

下一步，電科芯片將緊跟集成電路發(fā)展趨勢與行業(yè)痛點，持續(xù)加強(qiáng)對國家相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的研究、編制及實施推廣工作，為集成電路領(lǐng)域的設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)化貢獻(xiàn)力量。

（來源：電科芯片）