天眼查顯示，比亞迪半導(dǎo)體股份有限公司“存儲器測試方法、存儲器測試裝置、存儲介質(zhì)和電子設(shè)備”專利公布，申請公布日為2024年12月27日，申請公布號為CN119207534A。本發(fā)明公開了一種存儲器測試方法、存儲器測試裝置、存儲介質(zhì)和電子設(shè)備，所述存儲器測試方法包括：遍歷待測存儲器的每個存儲單元，在遍歷過程中，按照預(yù)設(shè)行進規(guī)則對遍歷到的目標存儲單元以及與所述目標存儲單元相鄰的相鄰存儲單元進行數(shù)據(jù)讀寫操作；對所述目標存儲單元的讀取數(shù)據(jù)與所述相鄰存儲單元的讀取數(shù)據(jù)進行邏輯運算，以獲得實際邏輯關(guān)系值；若所述實際邏輯關(guān)系值與標準邏輯關(guān)系值不一致，則確定所述待測存儲器存在故障，采用該方法可以通過實際邏輯關(guān)系值來檢測到存儲器的故障情況，測試算法的可靠性較高，同時兼顧故障覆蓋率和測試復(fù)雜度，且故障測試效率較高。