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IFWS2025：第三代半導體標準與檢測研討會最新報告出爐！

南京大學晶圓缺陷檢測設備公開招標公告（第三次）

第三代半導體檢測設備商芯澈半導體完成B輪融資

聚看云AI視覺系統(tǒng)亮相SEMI-e深圳半導體博覽會，引領LED晶圓缺陷檢測新變革

國產(chǎn)半導體檢測設備商中嘉微視完成近億元A輪融資

鎵仁半導體8英寸氧化鎵襯底質(zhì)量檢測結果揭曉，國際領先！

綠通科技斥資5.3億元控股大摩半導體戰(zhàn)略轉(zhuǎn)型進軍半導體量檢測設備領域

安森美助力NVIDIA AI系統(tǒng)檢測實驗室，自動駕駛安全生態(tài)再升級

米格實驗室完成近億元戰(zhàn)略融資加速打造半導體檢測全球化標桿

中科飛測“轉(zhuǎn)換關系獲取方法、檢測方法和相關設備”專利公布

華虹虹芯基金獨家投資半導體檢測設備商大束科技

總投資約5億元，睿寶高端半導體設備真空檢測儀器及傳感器項目6月投用

半導體量檢測裝備，迎來新勢力

2025九峰山論壇平行論壇10丨先進半導體檢測技術，精彩議題搶先看

簽約！超微公司擬投資10億元建電子束和光學量檢測設備項目

北方華創(chuàng)“一種晶圓位置檢測裝置及半導體設備”專利公布

上海積塔半導體申請檢測晶圓位置的專利，能夠確保后續(xù)晶圓環(huán)切等工藝順利進行

吳偉東：SiC功率MOSFET老化檢測智能柵極驅(qū)動器

專家學者齊聚探究第三代半導體標準與檢測的進展與趨勢 | IFWS&SSLCHINA2024

CASA立項“氮化鋁晶片位錯密度檢測方法腐蝕坑密度測量法”等2項氮化鋁團體標準

國科測試獲數(shù)千萬A輪融資，聚焦第三代半導體檢測設備賽道

【IFWS2024】第三代半導體標準與檢測研討會日程出爐

蘇州高視半導體申請基于晶圓檢測系統(tǒng)的晶圓檢測方法專利，降低晶圓缺陷的檢測成本

昂瑞微“一種芯片及其UserID檢測電路”專利獲授權

惠然微電子亮相無錫半導體展會呈現(xiàn)最新量檢測技術成果

福建平潭瑞謙智能科技取得一種用于半導體模塊封裝的視覺檢測設備專利

博視像元獲1.3億元A輪融資，產(chǎn)品應用于晶圓缺陷檢測等領域

考拉悠然國內(nèi)首臺玻璃基Micro LED晶圓量檢測設備完成出貨

默克布局半導體設備領域！1.55 億歐元收購半導體量檢測設備商Unity SC

芯勢科技獲數(shù)千萬元Pre-A輪融資，聚焦半導體前道量檢測設備領域

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