T/CASAS 052—2024《非鉗位感性負載開關(guān)應力下GaN HEMT在線測試方法》描述了執(zhí)行非鉗位感性負載應力下氮化鎵高電子遷移率晶體管在線測試方法，包括原理、測試條件、儀器設備、測試步驟、試驗數(shù)據(jù)處理和試驗報告。適用于封裝級GaN HEMT器件的生產(chǎn)研發(fā)、特性表征、量產(chǎn)測試、可靠性評價及應用評估。

【本文件主要起草單位】

電子科技大學、工業(yè)和信息化部電子第五研究所、大連理工大學、上海大學、北京大學、北京大學東莞光電研究院、深圳平湖實驗室、湖南三安半導體有限責任公司、蘇州能訊高能半導體有限公司、杭州長川科技股份有限公司、是德科技（中國）有限公司、佛山市聯(lián)動科技股份有限公司、北京第三代半導體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟。

【本文件主要起草人】

孫瑞澤、陳萬軍、明鑫、施宜軍、黃火林、任開琳、魏進、劉強、曾威、王小明、石瑜、夏云、劉成、裴軼、孫海洋、耿霄雄、孫承志、陳希辰、高偉。