2024年4月8-11日,一年一度化合物半導體行業(yè)盛會——2024九峰山論壇暨中國國際化合物半導體產(chǎn)業(yè)博覽會(簡稱“JFSC&CSE”)將于武漢光谷科技會展中心舉辦。CAMECA將攜新品亮相本屆盛會,誠邀業(yè)界同仁蒞臨A111展臺參觀、交流合作。
本屆CSE博覽會由第三代半導體產(chǎn)業(yè)技術創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟、九峰山實驗室共同主辦,以“聚勢賦能 共赴未來”為主題,將匯集全球頂尖的化合物半導體制造技術專家、行業(yè)領袖和創(chuàng)新者,采用“示范展示+前沿論壇+技術與商貿(mào)交流”的形式,為產(chǎn)業(yè)鏈的升階發(fā)展搭建供需精準對接平臺,助力企業(yè)高效、強力拓展目標客戶資源,加速驅動中國化合物半導體產(chǎn)業(yè)鏈的完善和升級。
CSE作為2024年首場國際化合物半導體產(chǎn)業(yè)博覽會得到了多方力量的大力支持,三大主題展區(qū),六大領域,將集中展示各鏈條關鍵環(huán)節(jié)的新技術、新產(chǎn)品、新服務,將打造化合物半導體領域的標桿性展會。助力打造全球化合物半導體平臺、技術、產(chǎn)業(yè)的燈塔級盛會,集中展示化合物半導體上下游全產(chǎn)業(yè)鏈產(chǎn)品,搭建企業(yè)發(fā)布年度新產(chǎn)品新技術的首選平臺,支撐產(chǎn)業(yè)鏈及中部地區(qū)建設具有全球影響力的萬億級光電子信息產(chǎn)業(yè)集群。
自1929 年成立以來, CAMECA 就一直憑借其精密機械、光學和電子器件而享譽盛名。CAMECA 在法國成立之初是作為一家電影院投影機制造商。隨后迅速發(fā)展成為科學儀器以及半導體制造行業(yè)的 in-fab / near-fab 計量解決方案的供應商,服務于國際科研領域。 自 2 0 世 紀 5 0 年代推出電子探針顯微分析儀( EPMA ) 和 2 0 世 紀 6 0 年代推出二次離子質譜儀( SIMS )以來, CAMECA 一直是這些技術領域無可爭議的全球領導者,同時在配套技術領域也實現(xiàn)了眾多突破性創(chuàng)新,如低能電子激發(fā) X 射線發(fā)射光譜儀( LEXES )和原子探針斷層分析術( APT) 。 今天, CAMECA 在全球擁有 300 多名員工,在巴西、中國、中國臺灣、德國、 印度、日本、韓國、俄羅斯、英國和美國設有分支機構,并建立了廣泛的代理網(wǎng)絡,確保為所有用戶提供最佳支持。我們的使命是專注于儀器開發(fā),在客戶的專業(yè)表征領域為他們提供最高的分析性能。 CAMECA認真貫徹 ISO 9001 質量體系認證,不僅嚴把技術關,也對產(chǎn)品設計、制造、安裝和維修的方方面面實施嚴密監(jiān)控。 我們的工廠分別設于位于法國巴黎附近熱納維耶總部、位于美國威斯康星州麥迪遜的原子探針技術中心,均采用先進設施,實施潔凈室生產(chǎn)、計算機網(wǎng)絡、電子和離子光學模擬以及先進CAD的最佳實踐。 CAMECA是全球領先的電子儀器和機電設備制造商 AMETEK, Inc. 的業(yè)務部門,隸屬于AMETEK材料分析部。
CAMECA 中國區(qū)共有員工 1 8 位。在不斷進取、努力開拓市場的同時,也組建了強大的售后服務力量和應用專家團隊,共同攜手為您的儀器保駕護航。 為優(yōu)化響應時間, CAMECA 中國依托集團公司的平臺,在上海自貿(mào)區(qū)設立備品備件倉庫。上海,北京,武漢……,您都會看到CAMECA工程師的身影。未來,CAMECA 中國繼續(xù)勵精圖治,奮發(fā)向上,立足中國,著眼未來,全力為您提供最佳微區(qū)分析解決方案和絕佳的售后服務。
產(chǎn)品介紹
二次離子質譜儀 IMS 7F-Auto
多功能SIMS工具:高通量和全自動化的基準檢測靈敏度
IMS 7f-Auto是我們獲得成功的IMS xf二次離子質譜儀(SIMS)產(chǎn)品系列的最新型號。該儀器旨在提高高精度元素和同位素分析的易用性和生產(chǎn)率,已針對玻璃、金屬、陶瓷、硅基,III-V和II-VI族化合物器件、散裝物料、薄膜等一系列頗具挑戰(zhàn)性的應用進行改良,可充分滿足行業(yè)對高效器件開發(fā)和過程控制的要求。
二次離子質譜儀 IMS WF/SCU
適用于高級半導體應用的高性能低能量SIMS
IMS Wf和SC Ultra經(jīng)專門設計,可充分滿足高級半導體對動態(tài)SIMS測量日益增長的需求該儀器可提供大范圍的沖擊能量(100 eV到10 keV),不影響質量分辨率和一次離子束密度,可確保在高通量條件下為最具挑戰(zhàn)性的應用提供無與倫比的分析性能:超淺能量和高能量注入物、超薄氮氧化物、高k金屬柵極、硅鍺摻雜層,Si:C:P結構、PV和LED器件及石墨烯等等。
四級桿二次離子質譜儀QUAD 4550
半導體中的四極桿SIMS摻雜物深度剖析和薄層分析
CAMECA SIMS 4550為光學器件中的硅、高k、硅鍺以及III-V族化合物等復合材料的薄層提供超淺深度剖析、痕量元素和組分測量等一系列擴展功能。
值此之際,我們誠邀業(yè)界同仁共聚本屆盛會,蒞臨展位現(xiàn)場參觀交流、洽談合作。
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