2024年4月8-11日，一年一度化合物半導(dǎo)體行業(yè)盛會(huì)——2024九峰山論壇暨中國(guó)國(guó)際化合物半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)博覽會(huì)（簡(jiǎn)稱“JFSC＆CSE”）將于武漢光谷科技會(huì)展中心舉辦。中導(dǎo)光電設(shè)備股份有限公司將攜新品亮相本屆盛會(huì)，誠(chéng)邀業(yè)界同仁蒞臨A312展臺(tái)參觀、交流合作。

本屆CSE博覽會(huì)由第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟、九峰山實(shí)驗(yàn)室共同主辦，以“聚勢(shì)賦能 共赴未來”為主題，將匯集全球頂尖的化合物半導(dǎo)體制造技術(shù)專家、行業(yè)領(lǐng)袖和創(chuàng)新者，采用“示范展示+前沿論壇+技術(shù)與商貿(mào)交流”的形式，為產(chǎn)業(yè)鏈的升階發(fā)展搭建供需精準(zhǔn)對(duì)接平臺(tái)，助力企業(yè)高效、強(qiáng)力拓展目標(biāo)客戶資源，加速驅(qū)動(dòng)中國(guó)化合物半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈的完善和升級(jí)。

 CSE作為2024年首場(chǎng)國(guó)際化合物半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)博覽會(huì)得到了多方力量的大力支持，三大主題展區(qū)，六大領(lǐng)域，將集中展示各鏈條關(guān)鍵環(huán)節(jié)的新技術(shù)、新產(chǎn)品、新服務(wù)，將打造化合物半導(dǎo)體領(lǐng)域的標(biāo)桿性展會(huì)。助力打造全球化合物半導(dǎo)體平臺(tái)、技術(shù)、產(chǎn)業(yè)的燈塔級(jí)盛會(huì)，集中展示化合物半導(dǎo)體上下游全產(chǎn)業(yè)鏈產(chǎn)品，搭建企業(yè)發(fā)布年度新產(chǎn)品新技術(shù)的首選平臺(tái)，支撐產(chǎn)業(yè)鏈及中部地區(qū)建設(shè)具有全球影響力的萬億級(jí)光電子信息產(chǎn)業(yè)集群。

中導(dǎo)光電設(shè)備股份有限公司創(chuàng)立于2006年，是一家由海歸資深專家團(tuán)隊(duì)創(chuàng)立的半導(dǎo)體和平板顯示工業(yè)高端光學(xué)檢測(cè)領(lǐng)域的中國(guó)解決方案提供商。公司主營(yíng)業(yè)務(wù)以平板顯示（FPD）產(chǎn)業(yè)高端自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備（AOI）為主導(dǎo)，以集成電路（IC）工業(yè)制程高端檢測(cè)設(shè)備為前沿。在FPD領(lǐng)域，公司的AOI產(chǎn)品形成了完整的產(chǎn)品家族，檢測(cè)靈敏度達(dá)到亞微米級(jí)，技術(shù)達(dá)到國(guó)際先進(jìn)、國(guó)內(nèi)領(lǐng)先水平；在IC領(lǐng)域，檢測(cè)設(shè)備產(chǎn)品覆蓋制造過程的檢測(cè)和量測(cè)兩個(gè)主要應(yīng)用領(lǐng)域，并成功進(jìn)入客戶產(chǎn)線應(yīng)用。公司核心技術(shù)源于自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)，累計(jì)獲得國(guó)內(nèi)外各類知識(shí)產(chǎn)權(quán)逾百件。公司承擔(dān)了國(guó)家、省和市級(jí)多項(xiàng)重大科研項(xiàng)目，致力于為半導(dǎo)體和平板顯示工業(yè)客戶提供快速高質(zhì)的定制化設(shè)備和技術(shù)解決方案。 

產(chǎn)品介紹

晶圓自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng) NanoPro-1XX系列

NanoPro-100系列產(chǎn)品是中導(dǎo)光電首臺(tái)推向市場(chǎng)的納米圖形晶圓缺陷檢測(cè)設(shè)備，適用于0.13-0.18um工藝產(chǎn)線的IC有圖形和無圖形晶圓缺陷檢測(cè)。 

晶圓自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng) NanoPro-2XX系列

NanoPro-200系列產(chǎn)品是中導(dǎo)光電推向市場(chǎng)的第二代納米圖形晶圓缺陷檢測(cè)設(shè)備，其適用于65nm-0.11um工藝產(chǎn)線的IC有圖形和無圖形晶圓缺陷檢測(cè)。 

晶圓自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng) MDI

MDI產(chǎn)品是中導(dǎo)光電推向市場(chǎng)的亞微米級(jí)晶圓缺陷檢測(cè)設(shè)備，適用于0.5-1um工藝產(chǎn)線的IC有圖形和無圖形晶圓缺陷檢測(cè)。

值此之際，我們誠(chéng)邀業(yè)界同仁共聚本屆盛會(huì)，蒞臨展位現(xiàn)場(chǎng)參觀交流、洽談合作。

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